影响直读光谱仪光线强度的因素有哪些？直读光谱仪的定量分析是基于荧光X射线的强度。影响光谱仪射线强度的因素会影响分析的准确性。以下是两个主要因素：

　　一.矩阵效应

　　基质效应包括吸收效应和强化效应。

　　吸收效应包括衬底对入射X射线和荧光X射线的吸收。当样品被射线激发时，它不仅作用于样品表层而且穿透相应厚度进入样品，样品中分析元素形成的荧光X射线只能透过相应厚度的样品发射。在穿透过程中，由于基质元素的吸收，这两种X射线的强度会减弱，射线的减弱会影响分析元素的激发效率。

　　如果入射的X射线激发基体元素形成波长略短于分析元素吸收边的荧光X射线，就会使分析元素形成次级荧光X射线，进而加强分析元素荧光X射线的强度，这就是基体的增强效应。

　　如果吸收效应占优势，分析结果略低；如果增强效果占优势，则分析结果较高。

　　直读光谱仪

　　第二，效果不均

　　不均匀效应是指样品粒度不均匀和样品表面光滑度对荧光X射线强度的影响。对于粉末样品，大颗粒的吸收作用强，小颗粒的吸收作用弱。因此，要求颗粒尺寸尽可能小，以减少对X射线的吸收。测量短波X射线时，要求粒度在250目以上，测量波长超过0.2nm的长波X射线时，要求粒度在400目以上。

　　固体样品必须打磨抛光，粉末样品必须压实，使表面光滑。粗糙的表面会明显降低荧光X射线的强度。测量短波X射线时，光洁度约为1005m，测量长波X射线时，光洁度为20-50 mm。